METROLOGICAL TESTS OF MEASURING SUBSYSTEMS
https://doi.org/10.26583/GNS-2019-02-10
EDN: ZZCRTX
Abstract
Development of measuring technologies creates the corresponding problems when carrying out metrological tests. In particular, the need for taking note of the used interface on properties of errors of results of measurements appears. Emergence of errors of dating is a consequence of more and more wide circulation of multipurpose measuring means generates requirement of development of the corresponding procedures of the metrological analysis, including metrological tests. Therefore, the problem of improvement of metrological tests of measuring systems in general and their subsystems is relevant. The scientific novelty consists in development of an algorithm of tests and a conclusion of the estimated ratios connected with definition of probabilistic characteristics of the corresponding errors. The practical importance consists in development of the block diagram of a test experiment. Innovative value consists in a possibility of synthesis of test techniques for certification of the measuring subsystems and measuring systems in general considering dating errors within shift errors.
About the Authors
E. I. Cvetkov
State Electrotechnical University (LETI)
Russian Federation
Russian Federation
Yu. P. Mucha
Volgograd State Technical University
Russian Federation
Russian Federation
I. Y. Koroleva
Volgograd State Technical University
Russian Federation
Russian Federation
A. D. Korolev
Volgograd State Technical University
Russian Federation
Russian Federation
References
1. Муха, Ю.П. Особенности коррекции погрешностей датирования [Текст] / Ю.П. Муха,Э.И. Цветков, И.Ю. Королева, А.Д. Королев // Телекоммуникации. – 2018. – № 4. – C. 32-39.
2. Муха, Ю.П. Погрешности датирования телекоммуникационных систем измерения [Текст] /Ю.П. Муха, Э.И. Цветков, И.Ю. Королева, А.Д. Королев // Телекоммуникации. – 2017. – № 6. – С. 43-48.
3. Свид. о гос. регистрации программы для ЭВМ № 2016616056 от 3 июня 2016 г. Российская Федерация. Гибкий интеллектуальный интерфейс (ГИИ) / Ю.П. Муха, А.Д. Королев. – ВолгГТУ. – 2016.
4. Муха, Ю.П. Погрешность датирования (сдвига) результатов измерений и ее связь с характеристиками интерфейса [Текст] / Ю. П. Муха, Э.И. Цветков, И.Ю. Королева // Глобальная ядерная безопасность. – 2016. – № 2 (19). – C. 50-58.
5. Муха, Ю.П. Синтез алгоритма управления ГИИ для систем технического зрения [Текст] /Ю.П. Муха, И.Ю. Королева, А.Д. Королев // Телекоммуникации. – 2016. – № 1. – C. 7-12.
6. Муха, Ю.П. Гибкий интеллектуальный интерфейс для систем передачи медицинской информации [Текст] / Ю.П. Муха, И.Ю. Королева, А.Д. Королев // Prospero: науч. журнал. – 2015. – № 5 (17). – C. 59-61.
7. Муха, Ю.П. Разработка гибкого интерфейсного блока на базе GHI G-400D [Текст] / Ю.П. Муха, А.Д. Королев // Оптико-электронные приборы и устройства в системах распознавания образов, обработки изображений и символьной информации. Распознавание : материалы XII междунар. науч.-техн. конф. Курск, 12-16 мая 2015 г. – Курск: Юго-Западный гос. ун-т, 2015. – C. 269-270.
8. Цветков, Э.И. Основы математической метрологии [Текст] / Э.И. Цветков. – Санкт-Петербург : Политехника, 2005. – 510 с.
9. Цветков, Э.И. Метрология. Модели. Метрологический анализ. Метрологический синтез [Текст] / Э.И. Цветков. – Санкт-Петербург : Изд-во СПбГЭТУ «ЛЭТИ», 2014. – 293 с.
10. Цветков, Э.И. Метрологические испытания без применения эталонов [Текст] / Э.И. Цветков // Мир измерений. – 2016. – С. 12-18.
11. Боброва, М.Н. Метрологические испытания средств измерений вероятностных характеристик случайных процессов [Текст] / М.Н. Боброва, Е.С. Сулоева, А.В. Царева, Э.И. Цветков // Материалы ХХI Международной конференции по мягким вычислениям и измерениям. Санкт-Петербург, 23-25 мая 2018 г. – Санкт-Петербург : ЛЭТИ, 2018. – Т. 1. – С. 62-65
Review
For citations:
Cvetkov E.I., Mucha Yu.P., Koroleva I.Y., Korolev A.D. METROLOGICAL TESTS OF MEASURING SUBSYSTEMS. Global Nuclear Safety. 2019;(2):86-92. (In Russ.) https://doi.org/10.26583/GNS-2019-02-10. EDN: ZZCRTX
Views:
19
JATS XML
Email this article 